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HF-QBY-Ⅱ自動記數(shù)擺式硬度計(數(shù)顯計數(shù))

自動記數(shù)擺式硬度計(數(shù)顯計數(shù))
產(chǎn)品簡介
product
產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章| 品牌 | 其他品牌 | 應用領(lǐng)域 | 化工 |
|---|
自動記數(shù)擺式硬度計(數(shù)顯計數(shù)) 型號:HF-QBY-Ⅱ
執(zhí)行標準:GB/T1730-93(B法)
擺桿質(zhì)量:120g
玻璃值:440+/-6s
振幅:5度-2度
計時范圍:999.9s
外形尺寸:200×150×570
備注:對擺
自動記數(shù)擺式硬度計(數(shù)顯計數(shù)) 用途:測定油漆涂料皮膜的硬度
試驗技術(shù)特征:硬度以擺條在漆膜上規(guī)定振幅中擺動所需時間與其在玻璃板上同樣振幅所需時間之比表示
![]() | 產(chǎn)品名稱: 漆膜擺式硬度計 產(chǎn)品型號:HF-QBY |
漆膜擺式硬度計 型號:HF-QBY
技術(shù)參數(shù):
執(zhí)行標準:GB/T1730-93
擺桿質(zhì)量:120g
玻璃值:440+/-6s
振幅:5度-2度
計時范圍:999.9s
外形尺寸:200×150×570
備注:對擺 詳細介紹:
用途:
測定油漆涂料皮膜的硬度試驗
技術(shù)特征:
硬度以擺條在漆膜上規(guī)定振幅中擺動所需時間與其在玻璃板上同樣振幅所需時間之比表示
、
![]() | 產(chǎn)品名稱: 膩子柔韌性測定儀 產(chǎn)品型號:HF-QTB |
膩子柔韌性測定儀 型號:HF-QTB
執(zhí)行標準:GB/T1748-88
試膜或軸棒尺寸:金屬彎曲膜直徑50mm ,100mm
試板底材厚度:0.2-0.3mm(馬口鐵板)
用途:通過在規(guī)定的條件下漆膜隨其底材一起變形而不發(fā)生損壞的能力評價漆膜的柔韌性
試驗技術(shù)特定:在標準規(guī)定條件下,彎曲試度板后,以使膩子膜開裂脫落時的彎曲膜的直徑(mm)表示
試膜或軸棒尺寸:金屬彎曲膜直徑50100
試板底材厚度:0.2-0.3(馬口鐵板)
![]() | 產(chǎn)品名稱:高精密型勻膠機 產(chǎn)品型號:EZ8 |
高精密型勻膠機 型號:EZ8
穎的使用設(shè)計。
的性能參數(shù)。
人性化工作界面。
即將推出的EZ8勻膠機提供您的使用感覺,適合實驗室應用和工業(yè)級應用。
不堵膠不進膠的耐用性設(shè)計
簡單可靠的載物盤更換設(shè)計
側(cè)面可更換接膠瓶廢膠收集
電動伸縮式可調(diào)觸摸屏
*的不濺膠和氣流系統(tǒng)設(shè)計
高速伺服電機可達12000rpm
無限程序步驟和組步可編輯
多路自動點膠可升級
易清潔耐腐蝕高分子材料內(nèi)腔
新穎的圖形化操作界面
![]() | 產(chǎn)品名稱:半導體分立器件測試儀 產(chǎn)品型號:CS2935 |
半導體分立器件測試儀型號:CS2935
一、產(chǎn)品特點:
測試品種覆蓋面廣、測試精度高、電參數(shù)測試全、速度快、有良好的重復性和*性、工作穩(wěn)定可靠,具有保護系統(tǒng)和被測器件的能力。測試儀由計算機操控,測試數(shù)據(jù)可存儲打印。除具有點測試功能外,還具有曲線掃描功能(圖示儀功能)。系統(tǒng)軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。系統(tǒng)軟件穩(wěn)定可靠、硬件故障率低,在實際測試應用中各項技術(shù)指標均可達到器件手冊技術(shù)指標及國標要求。
二、測試參數(shù)
1. 二管
VF、IR、BVR
2. 穩(wěn)壓(齊納)二管
VF、IR、BV Z
3. 晶體管 Transistor(NPN型/PNP型)
VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON
4. 可控硅整流器(晶閘管)
IGT、VGT、 IH、IL 、VTM
5. 場效應管
IGESF、IGSSF、 IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、 BVDGO、BVGSS
6. 光電耦合器
VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT
*7.三端穩(wěn)壓器
VO、SV、ID、IDV
三、測試參數(shù)范圍
晶體管
測試參數(shù) | 測試范圍 |
ICEO ICBO IEBO | 1nA-100nA 100nA-1uA 1uA-100uA 100uA-10mA |
VCE(sat) VBE(sat) | 0.10V-30V |
VBE(VBE(on)) | 0.10V-30V |
hFE | 1-99999 |
V(BR)EBO | 0.10V-30V |
V(BR)CEO V(BR)CBO | 0. 10V-50V 50V-1499V |
二管
測試參數(shù) | 測試范圍 |
IR | 1nA-100nA 100nA-1uA 1uA-100uA 100uA-10mA |
VF | 0.10V-30V |
V(BR) | 1V-50V |
50V-1499V |
穩(wěn)壓二管
測試參數(shù) | 測試范圍 |
IR | 1nA-100nA 100nA-1uA 1uA-100uA 100uA-10mA |
VF | 0.10V-30V |
VZ | 0.10V-50V |
三端穩(wěn)壓器
測試參數(shù) | 測試范圍 |
VO | 0.10V-30V |
SV | 0.10mV-1V |
ID | 1uA-10mA |
IDV | 1uA-10mA |
MOSFET
測試參數(shù) | 測試范圍 |
VGS(th) | 0.10V-30V |
gfs | 0.1mS-1000S |
RDS(on) | 10mΩ-100KΩ |
VDS(on) | 0.10V-50V |
IGSS | 1nA-100nA 100nA-1uA 1uA-100uA 100uA-10mA |
IDSS | 1nA-100nA 100nA-1uA 1uA-100uA 100uA-10mA |
ID(on) | 0-50A |
V(BR)GSS | 0.1V-30V |
V(BR)DSS | 0.1V-1499V |
光耦
測試參數(shù) | 測試范圍 |
VF | 0.10V-30V |
IR | 1nA-100nA 100nA-1uA 1uA-100uA 100uA-10mA |
VCE(sat) | 0.10V-50V |
CTR | 0.1%-1000% |
ICEO | 與IR參數(shù)相同 |
V(BR)ECO V(BR)CEO | 0.10V-50V 50V-1499V |
可控硅
測試參數(shù) | 測試范圍 |
IGT | 10uA-200mA |
VGT | 0.10V-30V |
IH | 10uA-1A |
IL | 10uA-1A |
VTM | 0.10V-50V |
四、技術(shù)指標
1、源的指標
主壓流源 (VA)
電壓:
設(shè)定范圍(V) | 精確度 |
±(0~10) | ±(14.6mV+0.5%set) |
±(10~50) | ±(73.2mV+0.5%set) |
電流:
測量范圍 | 精確度 |
±(0-50)uA | ±(244nA+0.5% set) |
±(50-500) uA | ±(2.44uA+0.5% set) |
±(0.5-5) mA | ±(24.4uA+0.5% set) |
±(5-50) mA | ±(244uA+0.5% set) |
±(50~500) mA | ±(2.44mA+0.5%set) |
±(0.5~5)A(脈沖) | ±(24.4mA+0.5%set) |
±(5-50)A(脈沖) | ±(244mA+0.5%set) |
壓流源 (VB)
電壓:
設(shè)定范圍(V) | 精確度 |
±(0~10) | ±(14.6mV+0.5%set) |
±(10~30) | ±(43.8mV+0.5%set) |
電流:
測量范圍 | 精確度 |
±(0-50)uA | ±(244nA+0.5% set) |
±(50-500) uA | ±(2.44uA+0.5% set) |
±(0.5-5) mA | ±(24.4uA+0.5% set) |
±(5-50) mA | ±(244uA+0.5% set) |
±(50~500) mA | ±(2.44mA+0.5%set) |
±(0.5~5)A(脈沖) | ±(24.4mA+0.5%set) |
±(5-50)A(脈沖) | ±(244mA+0.5%set) |
源(HV)
設(shè)定范圍(V) | 精確度 |
0~1500 | ±(1.22V+1%set) |
*1500V時大輸出為5mA。
2、電壓表的指標
測漏電流
測量范圍 | 精確度 |
±(0~200)nA | ±(2.44nA+0.5% Rdg) |
±(0.2-2)uA | ±(24.4nA+0.5% Rdg) |
±(2-20)uA | ±(244nA+0.5% Rdg) |
±(20~200) uA | ±(2.44uA+0.5% Rdg) |
±(0.2~2)mA | ±(24.4uA+0.5% Rdg) |
±(2-20)mA | ±(244uA+0.5% Rdg) |
測試電壓
設(shè)定范圍(V) | 精確度 |
±(0~10) | ±(3mV+0.5% Rdg) |
±(10~50) | ±(15mV+0.5% Rdg) |
測擊穿電壓
設(shè)定范圍(V) | 精確度 |
(0~50)V/10mA | ±(36.6mV+0.25% Rdg) |
(50~1500)V/1mA | ±(610.3mV+1% Rdg) |
放大倍數(shù)
設(shè)定范圍(V) | 精確度 |
1~9999 | 1% |
![]() | 產(chǎn)品名稱:毫秒測試儀 秒量測試儀 產(chǎn)品型號:LGS-2A |
毫秒測試儀 秒量測試儀 型號:LGS-2A
儀器標準頻率為10MHz,由石英晶體振蕩器給出,頻率穩(wěn)定,保證了儀器測量精度。儀器體積小、重量輕,使用操作簡便,適合檢測中心、礦山,特別是火工品生產(chǎn)廠家作工程檢測用。
主要用途
本儀器可直接完成以下參數(shù)的測試
1. 工業(yè)電延期時間測定
2. 測定
主要技術(shù)性能
1.輸出電流范圍及誤差
0.000A——4.000A,連續(xù)可調(diào),具有±0.5%的相對誤差。
2.輸出電流波動
≤1%
3.恒流輸出特性
≤1%(0——10)Ω,I≤3.500A
4.可接負載范圍
I≤3.500A(0——10)Ω,4.000A時(0——6) Ω
5.開路保護響應時間
(即沒有接負載,或負載已經(jīng)斷開,當按下起爆鍵后儀器停止輸出電流的響應時間)。
2S±1.5S
6.時間測量范圍及誤差
0.1uS~99999mS ±0.001%±1個字
7.晶振頻率
10MHz±(1×10-6)
8.探針方式
斷、通 、光電、壓電
9.電源
交流220V,±10%
10.工作環(huán)境
環(huán)境溫度:0℃——40℃。 相對濕度:80%。
11.顯示方式
五位數(shù)碼管顯示時間,單位為:mS、us。4 1/2數(shù)字表顯示電流,單位為:A。
12.儀器體積
350x400x160 mm3
13.重量
約6Kg